某芯片测试工装

时间:2024-08-02

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某芯片测试工装.jpg


行       业:科研

设计内容:硬件设计、PCB设计

设计时间:2022

产品简述:通过单片机控制,实现待测芯片引脚1对N及N对N多种选通方式,通过施加不同的电压、脉冲,获取待测芯片不同的响应时间与结果,以网口通讯传输到上位机获取测试数据,从而评判待测芯片性能。


设计团队:昱栎技术